根據(jù)國家經(jīng)濟(jì)貿(mào)易委員會電力司電力［2000］22號文的要求， 國電電力建設(shè)研究所組織電力行業(yè)內(nèi)有關(guān)專家組成規(guī)范修訂小組，對DL／T 5048—1995《電力建設(shè)施工及驗收技術(shù)規(guī)范(管道焊接接頭超聲波檢驗篇)》進(jìn)行了修訂。

        本標(biāo)準(zhǔn)修訂中參照了國標(biāo)GB 11345—1989《鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果的分級》和機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB 4730—1994《壓力容器無損檢測》。

        修訂后的標(biāo)準(zhǔn)保留了原規(guī)范中經(jīng)長期實踐、行之有效的有關(guān)探傷工藝方面的條款。

        修訂后的標(biāo)準(zhǔn)增加了“奧氏體中小徑薄壁管焊接接頭的檢驗”的內(nèi)容。

        修訂后的標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍將原規(guī)范的壁厚拓寬到160mm。

        本標(biāo)準(zhǔn)對管道焊接接頭的超聲波檢測方法共分成了“中厚壁管焊接接頭的檢驗”、“中小徑薄壁管焊接接頭的檢驗”和“奧氏體中小徑薄壁管焊接接頭的檢驗”三部分。

        本標(biāo)準(zhǔn)對管道焊接接頭的超聲波檢測方法及檢驗結(jié)果的等級評定等做出了具體的規(guī)定，使管道焊接接頭超聲波檢驗工作的標(biāo)準(zhǔn)化更趨完善。

        本標(biāo)準(zhǔn)實施后替代DL／T 5048—1995。

        本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E、附錄G、附錄H、附錄I、附錄J是標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)范性附錄。

        本標(biāo)準(zhǔn)的附錄F為資料性附錄。

        本標(biāo)準(zhǔn)由電力行業(yè)電站焊接標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口。

        本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位：國電電力建設(shè)研究所、江蘇省電力試驗研究所、黑龍江省電力科學(xué)研究院、華北電力科學(xué)研究院。

        本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：秦長榮、池永濱、于強(qiáng)、胡先龍、包樂慶。

        本標(biāo)準(zhǔn)由電力行業(yè)電站焊接標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會負(fù)責(zé)解釋。

        本標(biāo)準(zhǔn)首次發(fā)布時間：1983年、1995年第一次修訂，本次為第二次修訂。

管道焊接接頭超聲波檢驗技術(shù)規(guī)程  DL/T 820—2002

1、范圍
1.1    本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了管道焊接接頭的超聲波檢驗方法及檢驗結(jié)果的等級評定。

1.2    本標(biāo)準(zhǔn)適用于電力行業(yè)制作、安裝和檢修設(shè)備時鐵素體類鋼制承壓管道單面焊接雙面成型的中厚壁管、中小徑薄壁管和奧氏體中小徑薄壁管焊接接頭的手工A型脈沖反射法超聲波檢驗。

        a)中厚壁管：外徑大于或等于108mm、壁厚大于或等于14mm、小于等于160mm。

        b)中小徑薄壁管：外徑大于或等于32mm、小于或等于159mm，壁厚大于或等于4mm、小于14mm。

        c)奧氏體中小徑薄壁管：外徑大于或等于32mm、小于或等于159mm，壁厚大于或等于4mm、小于或等于8mm。

1.3    本標(biāo)準(zhǔn)不適用于鑄鋼、壁厚大于8mm奧氏體不銹鋼等粗晶材料的焊接接頭、內(nèi)外徑之比小于80%的中厚壁管管道縱向焊接接頭超聲波檢驗，也不適用于奧氏體和珠光體的異種鋼焊接接頭。

2、規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

        GB／T 11345—1989        鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果的分級

        GB／T 12604.1    無損檢測術(shù)語    超聲檢測

        DL／T 675    電力工業(yè)無損檢測人員資格考核規(guī)則

        DL 5007—1992    電力建設(shè)施工及驗收技術(shù)規(guī)范(火力發(fā)電廠焊接篇)

         DL 5009.1    電力建設(shè)安全工作規(guī)程(火力發(fā)電廠部分)

         JB／Ｔ 9214    A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法

        JB／Ｔ 10061    A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件

        JB／T 10062    超聲探傷用探頭性能測試方法

        JB／Ｔ 10063    超聲探傷用1號標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件

3、術(shù)語
本標(biāo)準(zhǔn)所用術(shù)語除符合GB／T 12604.1的規(guī)定外，還應(yīng)符合下述規(guī)定：

3.1    
時實采樣頻率    fact sampling frequency
未經(jīng)軟件及其他技術(shù)處理的采樣頻率。

3.2    
縱橫波串列掃查    longitudinal transverse wave tandem scan

厚壁工件焊縫檢驗中，在焊縫的一側(cè)采用縱波發(fā)射、橫波接收的掃查方法。

3.3    
縱向缺陷    reflectors oriented parallel to the weld

大致上平行于焊縫走向缺陷。

3.4    
橫向缺陷    reflectors oriented transverse to the weld

大致上垂直于焊縫走向缺陷。

4、一般要求
4.1    人員
檢測人員應(yīng)按DL／T 675規(guī)定，取得電力工業(yè)無損檢測人員資格考核委員會頒發(fā)的技術(shù)等級資格證書，從事與該等級相應(yīng)的無損檢測工作，并承擔(dān)相應(yīng)的技術(shù)責(zé)任。

4.2    安全及工作環(huán)境
超聲波檢驗必須遵守DL 5009.1的規(guī)定，當(dāng)檢驗條件不符合本標(biāo)準(zhǔn)的工藝要求或不具備安全作業(yè)條件時，檢驗人員應(yīng)停止工作，待條件改善符合要求后再行檢驗。

4.3    儀器和探頭
4.3.1    儀器

4.3.1.1    超聲波檢驗儀器的性能指標(biāo)應(yīng)符合JB／T 10061的規(guī)定。

4.3.1.2    超聲波檢驗儀器的性能測試方法應(yīng)符合JB／T 9214的規(guī)定。

4.3.1.3    工作頻率范圍至少為1MHz～6MHz。

4.3.1.4    對于全數(shù)字式A型脈沖反射式超聲探傷儀器要求時實采樣頻率不小于40MHz。

4.3.2    探頭

4.3.2.1    探頭性能必須按JB／T 10062《超聲探傷用探頭性能測試方法》進(jìn)行測定。

4.3.2.2    斜探頭置于標(biāo)準(zhǔn)試塊上探測棱邊，當(dāng)反射波幅最大時，探頭中心線與被測棱邊的夾角應(yīng)在90°±2°的范圍內(nèi)。

4.3.2.3    斜探頭主聲束在垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰或多峰。

4.3.2.4    探頭的中心頻率允許偏差為±0.5MHz。

4.4    組合的系統(tǒng)性能

        a)    在達(dá)到所探工件最大檢測聲程時，其有效靈敏度余量不小于10dB。

        b)    儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差在±10%之間。

        c)    直探頭的遠(yuǎn)場分辨力大于或等于30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力大于或等于6dB。

        d)    儀器和探頭的組合系統(tǒng)性能應(yīng)按JB／T 9214和JB／T 10062的規(guī)定進(jìn)行測試。

4.5    檢驗的要求

4.5.1    檢驗準(zhǔn)備

4.5.1.1    檢驗前應(yīng)了解管道名稱、材質(zhì)、規(guī)格、焊接工藝、熱處理情況、坡口型式、內(nèi)壁加工面情況，并進(jìn)行焊接接頭中心位置的標(biāo)定。

4.5.1.2    焊接接頭外觀質(zhì)量及外形尺寸需經(jīng)檢驗合格。對有影響檢驗結(jié)果評定的表面形狀突變應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?，并做圓滑過渡。內(nèi)壁加工面應(yīng)滿足超聲波檢驗的要求。

4.5.1.3    檢驗面探頭移動區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、銹蝕、氧化物及油垢，必要時，表面應(yīng)打磨平滑，打磨寬度至少為探頭移動范圍。

        a)    采用一次反射法或串列式掃查探測時，探頭移動區(qū)應(yīng)大于1.25P

P＝2ttgβ                                                                                    (1)

        式中：

        P——跨距，mm；

        t——管壁厚度，mm；

      β——探頭折射角，(°)。

        b)    采用直射法探測時，探頭移動區(qū)應(yīng)大于0.75P。

4.5.1.4    需要去除余高的焊縫，應(yīng)將焊縫打磨到與鄰近母材平齊。

4.5.2    檢驗區(qū)域
焊接接頭檢驗區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域， 這個區(qū)域最小10mm，最大20mm，見圖1。

圖1    檢驗區(qū)域

4.5.3    掃查速度
探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm／s，當(dāng)采用自動報警裝置掃查時不受此限制。

4.5.4    檢驗覆蓋率
探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的10%。

4.6    試塊

4.6.1    標(biāo)準(zhǔn)試塊
標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK—1B的形狀和尺寸見GB 11345—1989的附錄A，試塊制造的技術(shù)要求應(yīng)符合JB／T 10063的規(guī)定。

4.6.2    對比試塊
對比試塊應(yīng)選用與被檢驗管材相同或聲學(xué)性能相近的鋼材制作。

4.7    耦合劑
耦合劑應(yīng)具有良好的潤濕能力和透聲性能，且無霉、無腐蝕、易清除。

4.8    校準(zhǔn)
校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊和對比試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使超聲主聲束垂直對準(zhǔn)反射體的軸線。

4.8.1    儀器校準(zhǔn)
在儀器開始使用時，應(yīng)對儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行測定，測定方法按JB／T 10061的規(guī)定進(jìn)行。在使用過程中，每隔三個月至少應(yīng)進(jìn)行一次測定。

4.8.2    探頭校準(zhǔn)
在新探頭開始使用時，應(yīng)對探頭進(jìn)行一次全面的性能校準(zhǔn)。測定方法按JB／T 10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行。

        a)    斜探頭使用前，至少應(yīng)進(jìn)行前沿距離、折射角、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等的校準(zhǔn)。

使用過程中，每個工作日應(yīng)校準(zhǔn)前沿距離、折射角和主聲束偏離。

        b)    直探頭的始脈沖占寬、靈敏度余量和分辨力應(yīng)每隔一個月檢查一次。

4.8.3    儀器和探頭系統(tǒng)的校驗

4.8.3.1    每次檢測前均應(yīng)在對比試塊或其他等效試塊上對掃描線、靈敏度進(jìn)行校驗，校驗過程中使用的試塊與被檢管件的溫差不大于15℃。

        遇有下述情況應(yīng)隨時對其進(jìn)行重新核查：

        a)    校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時；

        b)    開路電壓波動或者檢測者懷疑靈敏度有變化時；

        c)    連續(xù)工作4h以上時；

        d)    工作結(jié)束時。

4.8.3.2    時基調(diào)節(jié)校驗時，如發(fā)現(xiàn)校驗點反射波在掃描線上偏移超過原校驗點刻度讀數(shù)的10%或滿刻度的5%(兩者取較小值)，則掃描比例應(yīng)重新調(diào)整，前次校驗后已經(jīng)檢驗的焊接接頭要重新檢驗。

4.8.3.3    靈敏度校驗時，如校驗點的反射波幅比距離—波幅曲線降低20%或2dB以上，則儀器靈敏度應(yīng)重新調(diào)整，并應(yīng)重新檢驗前次校驗后檢查的全部焊接接頭。如校驗點的反射波幅比距離—波幅曲線增加20%或2dB以上，則儀器靈敏度應(yīng)重新調(diào)整， 對前次校驗后已經(jīng)記錄的缺陷進(jìn)行尺寸參數(shù)重新測定并予以評定。

4.8.3.4    距離—波幅曲線復(fù)核時，校核應(yīng)不少于3點。如曲線上任何一點幅度下降2dB，則應(yīng)對上一次所有的檢測結(jié)果進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對所有的記錄信號進(jìn)行重新評定。

4.8.3.5    校準(zhǔn)、復(fù)核和線性檢驗時，任何影響儀器線性的控制器(如抑制或濾波開關(guān)等)都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。

4.9    檢驗工藝
應(yīng)針對具體焊接接頭或被檢驗焊接接頭種類制訂檢驗工藝。

下列情況和說明應(yīng)包括在檢驗工藝中，并以文件形式提供給操作人員：

        a)    檢驗等級；

        b)    材料的種類；

        c)    檢驗的時機(jī)；

        d)    接頭坡口形式；

        e)    焊接工藝；

        f)    表面狀態(tài)及靈敏度補(bǔ)償；

        g)    耦合劑；

        h)    儀器型號；

        i)    探頭及掃查方式；

        j)    靈敏度；

        k)    試塊；

        l)    缺陷位置標(biāo)定方法；

        m)    報告要求；

        n)    驗收標(biāo)準(zhǔn)；

        o)    操作人員資格。

4.10    記錄

        每次檢驗應(yīng)做原始記錄，記錄內(nèi)容至少包括下列資料：

        a)    被檢驗工件的名稱和焊縫的編號；

        b)    采用的工藝文件；

        c)    可記錄缺陷的詳細(xì)情況：包括缺陷的幅度、位置參數(shù)、尺寸參數(shù)；

        d)    檢驗人員的姓名和簽字，檢驗的時間和地點。

4.11    評定

        對檢驗的結(jié)果必須進(jìn)行等級評定。

4.12    報告

        檢驗報告至少應(yīng)包括以下內(nèi)容：

        a)    委托單位、報告編號；

        b)    工件名稱、編號、材料種類、熱處理狀態(tài)、檢測表面的粗糙度；

        c)    探傷儀、探頭、試塊和檢測靈敏度；

        d)    超聲檢測區(qū)域應(yīng)在草圖上予以標(biāo)明，如有因幾何形狀限制而檢測不到的部位，也應(yīng)加以說明；

        e)    缺陷的類型、尺寸、位置和分布；

        f)    檢驗結(jié)果、缺陷等級評定及檢驗標(biāo)準(zhǔn)名稱；

        g)    檢驗人員和責(zé)任人員簽字及其技術(shù)資格；

        h)    檢驗日期。

5、中厚壁管焊接接頭的檢驗
5.1    試塊

5.1.1    對比試塊

5.1.1.1    校準(zhǔn)時基線性應(yīng)采用GB 11345—1989附錄B的RB系列對比試塊。

5.1.1.2    現(xiàn)場檢驗時，為校驗靈敏度和時基線性，可采用附錄A所示的SD-IV試塊。

5.1.1.3    當(dāng)檢驗面曲率半徑R≤W2／4時(W為探頭接觸面寬度，R、W單位均為mm)，應(yīng)采用與檢驗面曲率相同或相近的對比試塊。反射體的布置可參照對比試塊確定，試塊的寬度應(yīng)滿足下式

b≥2λ(S／De)                                                                              (2)

        式中：

        b——試塊寬度，mm；

       λ——波長，mm；

        S——聲程，mm；

       De——聲源有效直徑，mm。

5.1.1.4    月牙槽對比試塊。焊接接頭根部未焊透的對比測定采用附錄B所示的SD-Ⅲ月牙槽對比試塊，該試塊應(yīng)用被檢管材制作。

5.1.1.5    在滿足本節(jié)要求的條件下，可以采用其他型式的試塊，并在報告中注明。

5.2    檢驗等級

5.2.1    檢驗等級的分級
根據(jù)不同焊接接頭質(zhì)量要求，檢驗等級分為A、B、C三級，檢驗的完善程度A級最低，B級一般，C級最高。應(yīng)按照工件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、焊接方法、使用條件及承受載荷的不同，合理地選用檢驗級別。檢驗等級應(yīng)按產(chǎn)品技術(shù)條件和有關(guān)規(guī)定選擇或經(jīng)訂約雙方協(xié)商選定。

對于給出的三個檢驗等級的檢驗條件，為避免焊件的幾何形狀限制相應(yīng)等級檢驗的有效性， 設(shè)計、工藝人員應(yīng)在考慮超聲波檢驗可行性的基礎(chǔ)上進(jìn)行結(jié)構(gòu)設(shè)計和工藝安排。檢驗時遇到非標(biāo)準(zhǔn)化的條件而不能滿足相應(yīng)等級檢驗的掃查要求時，應(yīng)對掃查進(jìn)行修正，使之至少達(dá)到等效的覆蓋水平，并在檢驗報告中注明。

5.2.2    檢驗等級的檢驗范圍
5.2.2.1    A級檢驗采用一種角度的探頭在焊縫的單面單側(cè)進(jìn)行檢驗，只對允許掃查到的焊縫截面進(jìn)行探測。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢驗。母材厚度大于50mm時，不得采用A級檢驗。

5.2.2.2    B級檢驗原則上采用一種角度的探頭在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行檢驗，對整個焊縫截面進(jìn)行探測。對檢測中出現(xiàn)異常現(xiàn)象，或有檢驗要求的焊縫兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過的母材部分要用直探頭檢查。條件允許(外徑大于250mm)時，應(yīng)在焊縫兩側(cè)進(jìn)行橫向缺陷檢驗的斜平行掃查。

5.2.2.3    C級檢驗至少要采用兩種角度探頭在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行檢驗。同時要將對接焊縫余高磨平，進(jìn)行兩個掃查方向和兩種探頭角度橫向缺陷檢驗的平行掃查。焊縫兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過的母材部分要用直探頭進(jìn)行檢查。

5.2.2.4    焊縫母材厚度大于等于60mm的C級檢驗，或B級檢驗有要求時，應(yīng)增加串列式掃查或縱橫波串列式掃查，串列式掃查方法參見GB 11345—1989附錄C， 縱橫波串列式掃查方法見附錄C。

5.3    檢驗準(zhǔn)備

5.3.1    檢驗面
除滿足4.5.2條規(guī)定外，應(yīng)按不同檢驗等級要求選擇檢驗面。推薦的檢驗面見圖2、表1。

圖2    側(cè)和面

表1    檢驗面及推薦使用探頭折射角β

管壁厚度	檢驗面			檢驗方法	使用探頭的折射角β
	A	Ba	Cb
14mm～25mm	單面單側(cè)	單面雙側(cè)	單面雙側(cè)和焊縫表面	直射法及一次反射法	70°
＞25mm～50mm					70°或60°
＞50mm～100mm	無A級			直射法	45°或60°；45°和60°，45和70°并用
＞100mm～160mm	無A級				45°和60°并用或45°和70°并用
a  無法進(jìn)行單面雙側(cè)掃查時，可采用兩種以上折射角的探頭在焊縫一側(cè)進(jìn)行探測。 b  探測焊縫根部缺陷時，不宜使用折射角為60°左右的探頭。

5.3.2    探頭的選擇
5.3.2.1    頻率。探頭頻率一般在2MHz～5MHz范圍內(nèi)選擇，推薦選用2MHz～2.5MHz探頭。在保證系統(tǒng)靈敏度的情況下，可以采用其他頻率的探頭。

5.3.2.2    角度。斜探頭的折射角β應(yīng)依據(jù)管壁厚度、焊縫坡口型式及預(yù)期探測的主要缺陷種類來選擇。對不同管壁厚度焊接接頭推薦使用的探頭角度和數(shù)量見表1。

        a)橫波串列式掃查，推薦選用標(biāo)稱折射角均為45°的兩個探頭，兩個探頭實際折射角相差不應(yīng)超過2°，探頭前沿長度相差應(yīng)小于2mm。為了便于探測厚焊縫坡口邊緣未熔合缺陷，亦可選用兩個不同角度的探頭，但兩個探頭角度均應(yīng)在35°～45°范圍內(nèi)。

        b)    縱橫波串列式掃查，橫波探頭選用標(biāo)稱折射角為56°。

5.3.2.3    探頭的晶片尺寸的選擇要保證系統(tǒng)靈敏度。

        a)    斜探頭

        斜探頭的晶片尺寸原則上如表2所示，但是用于串列式掃查探頭的晶片尺寸不受表2限制。

表2    斜探頭的頻率和晶片尺寸

頻    率	晶片尺寸
2MHz(2.5MHz)	10mm×10mm～20mm×20mm
5MHz(4MHz)	10mm×10mm～14mm×14mm

        b)    直探頭

        直探頭的晶片尺寸作為圓形晶片其有效直徑原則上如表3所示。

表3    直探頭的頻率和晶片有效直徑
 

頻    率	晶片有效直徑
2MHz(2.5MHz)	20mm,25mm,30mm
5MHz(4MHz)	10mm,20mm

 

5.3.2.4    探頭與檢驗面應(yīng)緊密接觸，當(dāng)檢驗面曲率半徑R≤W2／４時，探頭楔塊應(yīng)進(jìn)行修磨，并使其與檢驗面相吻合。修磨后的探頭應(yīng)重新測定入射點及折射角。

5.3.3    母材的檢驗

5.3.3.1    焊縫兩側(cè)的母材，檢驗前應(yīng)測量管壁厚度，至少每隔90°測量一點，并做好記錄，以便檢驗時參考。

5.3.3.2    采用B級、C級檢驗時，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域應(yīng)用直探頭進(jìn)行檢查，以便確定是否有影響斜角檢驗結(jié)果解釋的分層性或其他種類缺陷存在。該項檢查僅做記錄，不屬于對母材的驗收檢驗。檢查的要點如下：

        a)    方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率為2MHz～5MHz的直探頭；

        b)    靈敏度：將無缺陷處二次底波調(diào)節(jié)到熒光屏滿刻度；

        c)    記錄：凡缺陷信號超過熒光屏滿刻度20%的幅度部位，應(yīng)在工件表面做出標(biāo)記，并予以記錄。

5.3.4    儀器調(diào)整
5.3.4.1    時基線掃描的調(diào)節(jié)。時基線刻度可按比例調(diào)節(jié)為代表脈沖回波的水平距離、深度或聲程。掃描比例依據(jù)管件厚度和選用的探頭角度來確定，最大檢驗范圍應(yīng)調(diào)至?xí)r基線滿刻度60%以上。

5.3.4.2    檢驗面曲率半徑R大于W2／4時，應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊或平面對比試塊上，進(jìn)行時基線掃描調(diào)節(jié)。

5.3.4.3    檢驗面曲率半徑R小于等于W2／4時，在5.1.1.3條規(guī)定的對比試塊上，進(jìn)行時基線掃描調(diào)節(jié)。

5.3.5    距離—波幅曲線的測繪

5.3.5.1    距離—波幅曲線應(yīng)以所用探傷儀和探頭在對比試塊上實測的數(shù)據(jù)繪制，其繪制方法見附錄D。該曲線由判廢線RL、定量線SL和評定線EL組成。EL和SL之間稱Ⅰ區(qū)，SL和RL之間稱Ⅱ區(qū)，RL以上稱Ⅲ區(qū)，如圖3所示。

圖3    距離—波幅曲線

5.3.5.2    不同檢驗等級、管壁厚度的距離—波幅曲線各線靈敏度見表4。

表4    距離—波幅曲線的靈敏度

頻    率	晶片有效直徑
2MHz(2.5MHz)	20mm,25mm,30mm
5MHz(4MHz)	10mm,20mm

檢驗級別	A	B	C
管壁厚度	14mm～50mm	14mm～160mm	14mm～160mm
判廢線RL	3×40	3×40-4dB	3×40-2dB
定量線SL	3×40-10dB	3×40-10dB	3×40-8dB
評定線EL	3×40-16dB	3×40-16dB	3×40-14dB

5.3.5.3    探測橫向缺陷時，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB。

5.3.5.4    檢驗面曲率半徑R≤W2／4時，距離—波幅曲線的繪制應(yīng)在5.1.1.3條規(guī)定的對比試塊上進(jìn)行。

5.3.5.5    探測時由于管件表面耦合損失、材料衰減以及內(nèi)外曲率的影響，應(yīng)對檢驗靈敏度進(jìn)行傳輸損失綜合補(bǔ)償，綜合補(bǔ)償量必須計入距離—波幅曲線。補(bǔ)償?shù)臏y量方法見附錄E。若在一個跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失在2dB內(nèi)，可不進(jìn)行綜合補(bǔ)償。

5.3.5.6    距離—波幅曲線可繪制在坐標(biāo)紙上，也可直接繪制在熒光屏刻度板上。但在整個檢驗范圍內(nèi)，曲線應(yīng)處于熒光屏滿刻度20%以上，見圖4，否則，應(yīng)采用分段繪制的方法，見圖5。


圖4    距離—波幅曲線板的范圍


圖5    分段距離—波幅曲線

5.3.6    儀器的校驗
 按4.8.3規(guī)定對儀器進(jìn)行校驗。

5.4    檢驗方法
5.4.1    一般要求
掃查靈敏度應(yīng)不低于評定線(EL線)靈敏度。

5.4.2    掃查方式

5.4.2.1    為了探測焊接接頭的縱向缺陷，一般采用斜探頭垂直于焊縫中心線放置在檢驗面上，沿焊接接頭進(jìn)行矩形移動掃查，見圖6。探頭前后移動的距離應(yīng)保證掃查到4.5.2條規(guī)定的焊接接頭檢驗區(qū)域?qū)挾热糠秶?。掃查時相鄰兩次探頭移動間隔應(yīng)保證至少有10%的重疊。在保持探頭垂直焊縫中心線進(jìn)行前后移動的同時，根據(jù)曲率大小還應(yīng)進(jìn)行10°～15°角的左右擺動。

圖6    矩形移動掃查

5.4.2.2    為探測焊接接頭的橫向缺陷，可采用平行或斜平行掃查。

5.4.2.3    B級檢驗時，當(dāng)管外徑大于250mm時，可在焊縫兩側(cè)邊緣使探頭與焊縫中心線呈10°～20°角做斜平行掃查，見圖7。


圖7    斜平行掃查

5.4.2.4    C級檢驗時，可將探頭放在焊縫上及其兩側(cè)邊緣做平行掃查，見圖8。管壁厚度超過60mm時，應(yīng)采用兩種角度探頭(45°和60°并用或45°和70°并用)進(jìn)行兩個方向的平行掃查，也可用兩個45°探頭進(jìn)行串列式平行掃查。

圖8    平行掃查

5.4.2.5    為了確定缺陷的位置、方向、形狀，觀察缺陷動態(tài)波形或區(qū)分缺陷信號與非缺陷信號，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式，見圖9。

圖9    四種探頭基本掃查方式

5.4.3    焊接接頭的檢驗
5.4.3.1    環(huán)向?qū)咏宇^

5.4.3.1.1    應(yīng)按5.1條的規(guī)定選用對比試塊，并采用5.4.2條的掃查方式進(jìn)行檢驗。

5.4.3.1.2    對比試塊的曲率半徑為檢驗面曲率半徑0.9～1.5倍的試塊均可采用。

5.4.3.2    縱向?qū)咏宇^

5.4.3.2.1    應(yīng)按5.1條的規(guī)定選用對比試塊，并采用5.4.2條的掃查方式進(jìn)行檢驗。

5.4.3.2.2    對比試塊的曲率半徑與檢驗面曲率半徑之差應(yīng)小于10%。

5.4.3.2.3    根據(jù)管件的曲率和壁厚選擇探頭角度，并考慮幾何臨界角的限制。條件允許時，聲束在曲底面的入射角不應(yīng)超過70°。

5.4.3.2.4    探頭接觸面修磨后，用曲面試塊實際測定探頭入射點和折射角。

5.4.3.2.5    當(dāng)檢驗面曲率半徑R＞W(wǎng)2／4，采用平面對比試塊調(diào)節(jié)儀器時，檢驗中應(yīng)及時修正缺陷深度或水平距離與缺陷實際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差異，修正方法參照GB 11345相關(guān)章節(jié)。

5.4.4    反射回波的分析
對波幅超過評定線(EL線)的反射回波［或波幅雖然未超過評定線(EL線)，但有一定長度范圍的來自焊接接頭被檢區(qū)域的反射回波］，應(yīng)根據(jù)探頭位置、方向、反射波的位置及焊接接頭的具體情況，參照附錄F進(jìn)行分析，判斷其是否為缺陷。判斷為缺陷的部位均應(yīng)在焊接接頭表面做出標(biāo)記。

5.4.5    缺陷
對在焊接接頭檢驗掃查過程中被標(biāo)記的部位進(jìn)行檢驗，將掃查靈敏度調(diào)節(jié)到評定線，對反射幅度超過定量線的缺陷，均應(yīng)確定其具體位置、最大反射波幅度及其所在區(qū)域和指示長度。

5.4.5.1    最大反射波幅度的測定

        a)按5.4.2的掃查方式移動探頭至缺陷出現(xiàn)最大反射波信號的位置，測出最大反射回波幅度并與距離—波幅曲線比較，確定波幅所在區(qū)域。波幅測定的允許誤差為2dB。

        b)    最大反射波幅度A與定量線SL的dB差值記為SL±( )dB。

5.4.5.2    位置參數(shù)的測定。缺陷位置以獲得缺陷最大反射波信號的位置來表示，根據(jù)探頭的相應(yīng)位置和反射波在熒光屏上的位置來確定如下位置參數(shù)：

        a)    缺陷沿焊接接頭方向的位置。

        b)    缺陷位置到檢驗面的垂直距離(即深度)。

        c)    缺陷位置離開焊縫中心的距離。

5.4.5.3    缺陷尺寸參數(shù)的測定應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅度確定缺陷當(dāng)量值Φ或測定缺陷指示長度Δl。

5.4.5.3.1    缺陷當(dāng)量值Φ，用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢驗，可采用公式計算、DGS曲線、試塊對比或當(dāng)量計算尺確定缺陷當(dāng)量值。

5.4.5.3.2    缺陷指示長度Δl的測定可采用如下三種方法。

        a)當(dāng)缺陷反射波信號只有一個高點時，用降低6dB相對靈敏度法測量缺陷的指示長度，見圖10。


圖10    相對靈敏度法

 

        b)在測長掃查過程中，當(dāng)缺陷反射波信號起伏變化有多個高點，缺陷端部反射波幅度位于SL線或Ⅱ區(qū)時，則以缺陷兩端反射波極大值之間探頭的移動距離確定為缺陷的指示長度，即端點峰值法，見圖11。

圖11    端點峰值法

        c)當(dāng)缺陷反射波峰位于Ⅰ區(qū)時，如認(rèn)為有必要記錄，將探頭左右移動，使波幅降到評定線，以此測定缺陷指示長度。

5.4.6    缺陷評定
5.4.6.1    對波幅超過評定線(EL線)的反射波或波幅雖然未超過評定線(EL線)，但有一定長度范圍的來自焊接接頭被檢區(qū)域的反射回波，均應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷的特征?？筛鶕?jù)缺陷反射波信號的特征、部位，采用動態(tài)包絡(luò)線波形分析法，改變探測方向或掃查方式，并結(jié)合焊接工藝等進(jìn)行綜合分析來推斷缺陷性質(zhì)。如無法準(zhǔn)確判斷時， 應(yīng)輔以其他檢驗進(jìn)行綜合判定。

5.4.6.2    最大反射波幅度位于Ⅱ區(qū)的缺陷，其指示長度小于10mm時，按5mm計。

5.4.6.3    相鄰兩缺陷各向間距小于8mm時，兩缺陷指示長度之和作為單個缺陷的指示長度。

5.4.6.4    根部未焊透的測定。對于允許存在一定尺寸根部未焊透焊接接頭應(yīng)進(jìn)行根部未焊透的測定。

5.4.6.4.1    檢驗中發(fā)現(xiàn)的根部缺陷經(jīng)綜合分析確認(rèn)為未焊透時， 應(yīng)選用高分辨率、折射角45°～50°、頻率為5MHz的橫波斜探頭。用附錄B的月牙槽對比試塊上深1.5mm的月牙槽反射波幅調(diào)至熒光屏滿刻度50%作為靈敏度，進(jìn)行幅度對比測定。

5.4.6.4.2    當(dāng)缺陷反射波幅度小于月牙槽對比試塊調(diào)節(jié)的靈敏度反射波幅度時，用端點14dB法測量其指示長度L。

5.5    檢驗結(jié)果的評級
5.5.1    評定單位
管道焊接接頭質(zhì)量以每個焊接接頭為評定單位，當(dāng)量數(shù)計算按DL 5007規(guī)定。

5.5.2    記錄
非裂紋、未熔合等缺陷反射波幅度達(dá)到EL線或在Ⅰ區(qū)時，如無特殊要求，可不做記錄。

5.5.3    缺陷的級別評定
根據(jù)缺陷的性質(zhì)、幅度、指示長度分為四級：

5.5.3.1    最大反射波幅度達(dá)到SL線或Ⅱ區(qū)的缺陷，根據(jù)缺陷指示長度按表5的規(guī)定予以評級。

表5    單個缺陷的等級分類

檢驗級別 管壁厚度 評定等級	A	B	C
	14mm～50mm	14mm～160mm	14mm～160mm
Ⅰ	2／3t，最小12mm	t／3，最小10mm，最大30mm	t／3，最小10mm，最大20mm
Ⅱ	3／4t，最小12mm	2／3t，最小12mm，最大50mm	t／2，最小10mm，最大30mm
Ⅲ	3＜t，最小20mm	3／4t，最小16mm，最大75mm	2／3t，最小12mm，最大50mm
Ⅳ	超過Ⅲ級者
注：t為坡口加工側(cè)管壁厚度，焊接接頭兩側(cè)管壁厚度不等時，t取薄壁管厚度，t單位為毫米(mm)。

5.5.3.2    對接焊縫允許存在一定尺寸根部未焊透缺陷，根據(jù)其反射波幅度及指示長度按表6的規(guī)定予以評級。

5.5.3.3    性質(zhì)為裂紋、未熔合、根部未焊透(不允許存在未焊透的焊縫)評定為Ⅳ級。

5.5.3.4    反射波幅度位于RL線或Ⅲ區(qū)的缺陷評定為Ⅳ級。

5.5.3.5    最大反射波幅度不超過EL線，和反射波幅度位于Ⅰ區(qū)的非裂紋、未熔合、根部未焊透性質(zhì)的缺陷，評定為Ⅰ級。

表6    根部未焊透等級分類

評定等級	對比靈敏度	缺陷指示長度 mm
Ⅱ	1.5	≤焊縫周長的10%
Ⅲ	1.5＋4dB	≤焊縫周長的20%
Ⅳ	超過Ⅲ級者
注1：當(dāng)缺陷反射波幅大于或等于用SD—Ⅲ型試塊調(diào)節(jié)對比靈敏度1.5mm深月牙槽的反射波幅時，以缺陷反射波幅評定。 注2：當(dāng)缺陷反射波幅小于用SD—Ⅲ型試塊調(diào)節(jié)對比靈敏度1.5mm深月牙槽的反射波幅時，以缺陷指示長度評定。

5.5.4    返修焊接接頭
不合格的焊接接頭應(yīng)予以返修，返修部位及返修時受影響的區(qū)域，均應(yīng)按原檢驗條件進(jìn)行復(fù)驗，復(fù)驗部位的缺陷亦應(yīng)按5.5.3條進(jìn)行評定。

6、中小徑薄壁管焊接接頭檢驗
6.1    試塊
采用附錄G所示的DL-1型專用試塊， 測定探頭參數(shù)、系統(tǒng)組合性能及校準(zhǔn)時基線性。

6.2    檢驗準(zhǔn)備
除滿足4.5條規(guī)定外，應(yīng)符合下列要求。

6.2.1    檢驗面
檢驗面打磨寬度應(yīng)滿足表7所示。

表7    打    磨    寬    度

 

管子厚度	4mm～6mm	6mm～14mm
打磨寬度	50mm	100mm

6.2.2    焊縫的余高修磨
所檢管件的焊縫余高過高、過寬或有不清晰回波信號產(chǎn)生的地方，應(yīng)進(jìn)行修磨，使之滿足檢驗的要求。

6.2.3    儀器
用于檢驗的儀器在運行中不得出現(xiàn)任何種類的臨界值和阻塞情況，宜采用數(shù)字式A型脈沖反射式超聲波探傷儀。

6.2.4    探頭的選擇
選用的探頭直射波掃查時按圖12所示，應(yīng)掃查到焊接接頭1／4以上壁厚范圍。

注：h≥t／4。

圖12    掃查示意圖

6.2.4.1    頻率。探頭頻率為5MHz。

6.2.4.2    角度。斜探頭的折射角β應(yīng)依據(jù)管壁厚度來選擇， 不同管壁厚度焊接接頭推薦使用的探頭角度見表8。

表8    推薦使用的探頭角度β

 

管壁厚度	探頭的折射角β
4mm～8mm	73°～70°
8mm～14mm	70°～63°

6.2.4.3    探頭晶片尺寸。在保證晶片面積不大于64mm2的前提下，推薦探頭晶片尺寸選用6mm×6mm、8mm×8mm、7mm×9mm。

6.2.4.4    探頭前沿。管壁厚度小于或等于6mm時探頭前沿應(yīng)小于或等于5mm，壁厚度大于6mm時可適當(dāng)增大。

6.2.4.5    始脈沖占寬。使用的探頭與探傷儀應(yīng)有良好的匹配性能， 在掃查靈敏度的條件下，探頭的始脈沖寬度應(yīng)盡可能小，一般小于或等于2.5mm(相當(dāng)于鋼中深度)。

6.2.4.6    探頭分辨力。探頭分辨力應(yīng)大于等于20dB。

6.2.4.7    探頭與檢驗面應(yīng)緊密接觸，如圖13所示，間隙X不應(yīng)大于0.5mm。若不能滿足，應(yīng)進(jìn)行修磨，修磨的要求和方法見附錄H。

圖13    探頭接觸面邊緣與管子外表面的間隙示意圖

6.2.5    母材的測厚
對管子外徑大于89mm，或有該項檢驗要求的焊接接頭，按照5.3.3.1條規(guī)定。

6.2.6    耦合劑
宜采用甲基纖維素的糊狀物或甘油為基本成分的耦合劑，不宜采用油類作為耦合劑。

6.3    儀器調(diào)整和校驗
6.3.1    探頭參數(shù)及性能的測定
在DL-1型專用試塊上測定探頭的前沿、折射角、始脈沖占寬和探頭分辨力，測量方法見附錄I。

6.3.2    時基線掃描的調(diào)節(jié)
在DL-1型專用試塊上調(diào)節(jié)時基線，調(diào)節(jié)方法見附錄J。

6.3.3    DAC曲線的繪制
DAC曲線應(yīng)以所用探傷儀和探頭在DL-1型專用試塊上實測的數(shù)據(jù)測繪。
6.3.3.1    被檢驗管子厚度小于或等于6mm時，DAC測繪如圖14所示：將h＝5mm的 Φ1mm通孔回波高調(diào)節(jié)到垂直刻度的80%，畫一條直線(用于直射波檢驗)，然后降4dB再畫一條直線(用于一次反射波檢驗)。

圖14    DAC曲線示意圖

6.3.3.2    被檢驗管子厚度大于6mm時，按附錄D方法畫Φ1mm通孔的DAC曲線。

6.3.4    儀器調(diào)整的校驗
儀器調(diào)整的校驗在DL-1型專用試塊上按4.8.3條規(guī)定進(jìn)行。

6.4    檢驗方法

6.4.1    掃查方式
按5.4.2的要求進(jìn)行，但不做10°～15°角左右擺動的規(guī)定性要求。

6.4.1.1    環(huán)向?qū)咏宇^。對環(huán)向?qū)咏宇^從焊縫兩側(cè)進(jìn)行，移動范圍如圖15所示。

圖15    環(huán)向?qū)咏宇^掃查方法

6.4.1.2    角接接頭。對角接接頭以小徑管為檢驗面進(jìn)行單側(cè)掃查，如圖16、圖17所示。

圖16    騎座式角接接頭


圖17    插入式角接接頭掃查方法

6.4.2    檢驗
6.4.2.1    掃查靈敏度為DAC曲線增益10dB。

6.4.2.2    應(yīng)按6.4.1掃查方式進(jìn)行檢驗。

6.4.2.3    反射回波的分析。對波幅超過DAC－10dB的反射波(或波幅雖然未超過DAC－10dB的反射波，但有一定長度范圍的來自焊接接頭被檢區(qū)域的反射回波)，應(yīng)根據(jù)探頭位置、方向、反射波的位置及焊接接頭的具體情況，參照附錄F進(jìn)行分析，判斷其是否為缺陷。判斷為缺陷的部位均應(yīng)在焊接接頭表面做出標(biāo)記。

6.4.3    缺陷
對在焊接接頭檢驗掃查過程中被標(biāo)記的缺陷部位進(jìn)行檢驗，并確定其具體位置、最大反射波幅度和指示長度。

6.4.3.1    最大反射波幅度的測定

        a)按5.4.2的掃查方式移動探頭至缺陷出現(xiàn)最大反射波信號的位置，測出最大反射波幅度并與DAC曲線比較。波幅測定的允許誤差為2dB。

        b)    最大反射波幅度A與DAC的dB差值記為DAC±( )dB。

6.4.3.2    按照5.4.5.2條規(guī)定測定位置參數(shù)。

6.4.3.3    缺陷尺寸參數(shù)的測定。應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅度測定缺陷指示長度Δl，可采用如下兩種方法。

        a)    按照5.4.5.3.2a)方法。

        b)在測長掃查過程中，當(dāng)缺陷反射波信號起伏變化有多個高點，缺陷端部反射波幅度位于DAC線或以上時，則將缺陷兩端反射波極大值之間探頭的移動距離確定為缺陷的指示長度， 即端點峰值法，見圖11。

6.4.3.4    缺陷指示長度小于或等于5mm記為點狀缺陷。
6.4.4    評定缺陷
根據(jù)缺陷類型、缺陷波幅的大小以及缺陷的指示長度，缺陷評定為允許存在和不允許存在兩類。

6.4.4.1    不允許存在的缺陷：

        a)    性質(zhì)判定為裂紋、坡口未熔合、層間未熔合、未焊透及密集性缺陷者1)；

        1) 密集性缺陷指在掃查靈敏度下熒光屏有效聲程范圍內(nèi)同時有2個或2個以上的缺陷反射信號。

        b)    單個缺陷回波幅度大于或等于DAC－6dB者；

        c)    單個缺陷回波幅度大于或等于DAC－10dB且指示長度大于5mm者。

6.4.4.2    允許存在的缺陷：
單個缺陷回波幅度小于DAC－6dB，且指示長度小于或等于5mm者。

7、奧氏體中小徑薄壁管焊接接頭檢驗
7.1    試塊

        a)    試塊選用規(guī)格相同的同批號或聲學(xué)性能相近的管子制作。

        b)    在管子試樣的內(nèi)外壁表面加工短槽，試塊形狀尺寸見圖18和表9。

表9    試    塊    尺    寸

管子厚度	4mm～6mm	6mm～14mm
打磨寬度	50mm	100mm

圖18    短槽試塊

7.2    檢驗準(zhǔn)備
除滿足4.5.2條規(guī)定外，應(yīng)符合下列要求。

7.2.1    檢驗面
檢驗面打磨寬度應(yīng)不少于70mm。

7.2.2    焊縫的余高修磨
按照6.2.2條規(guī)定執(zhí)行。

7.2.3    儀器
按照6.2.3條規(guī)定執(zhí)行。

7.2.4    探頭的選擇
選用的探頭直射波掃查時，應(yīng)按圖12所示，掃查到焊接接頭1／4以上壁厚范圍。

7.2.4.1    頻率。探頭頻率宜采用4MHz或5MHz。

7.2.4.2    角度。斜探頭的折射角β應(yīng)依據(jù)管壁厚度來選擇。對不同管壁厚度焊接接頭推薦使用的探頭，折射角β為73°～70°。

7.2.4.3    探頭晶片尺寸。在保證晶片面積不大于36mm２的前提下，推薦探頭晶片尺寸選用6mm×6mm或 Φ5mm。

7.2.4.4    探頭前沿。探頭前沿應(yīng)小于或等于5mm。

7.2.4.5    始脈沖占寬。按照6.2.4.5規(guī)定。

7.2.4.6    探頭分辨力。按照6.2.4.6規(guī)定。

7.2.4.7    探頭與檢驗面應(yīng)緊密接觸，如圖13所示間隙X不應(yīng)大于0.5mm，若不能滿足，應(yīng)進(jìn)行修磨，修磨的要求和方法見附錄H。

7.2.5    母材的測厚
按照6.2.5條規(guī)定。

7.2.6    耦合劑
按照6.2.6規(guī)定。

7.3    儀器調(diào)整和校驗
7.3.1    探頭參數(shù)及性能的測定

7.3.1.1    在DL-1型專用試塊上測定探頭的前沿、始脈沖占寬和探頭分辨力，測量方法見附錄I。

7.3.1.2    折射角在短槽試塊上測定。

7.3.2    時基線掃描的調(diào)節(jié)
在短槽試塊上調(diào)節(jié)時基線，將探頭置于管子試塊外表面上，分別用直射波和一次反射波探測內(nèi)外表面的短槽，將其反射波調(diào)整到相應(yīng)的位置，即完成掃描速度調(diào)整。

7.3.3    DAC曲線的繪制
DAC曲線應(yīng)以所用探傷儀和探頭在短槽試塊實測的數(shù)據(jù)繪制。

將探頭置于管子短槽試塊的外表面，分別用直射波和一次反射波探測試塊內(nèi)外表面的短槽，調(diào)節(jié)衰減器使直射波回波聲壓達(dá)儀器屏幕滿幅的80%。在此狀態(tài)下找出一次反射波的最大回波，如圖19所示，畫兩條直線即為DAC曲線。


圖19    DAC曲線示意圖

7.3.4    儀器調(diào)整的校驗
按照6.3.4條規(guī)定執(zhí)行。

7.4    檢驗方法

7.4.1    掃查方式
按5.4.2的要求在焊縫的兩側(cè)進(jìn)行掃查，但不做10°～15°角的左右擺動；移動范圍如圖15所示。

7.4.2    檢驗
7.4.2.1    掃查靈敏度為DAC曲線。

7.4.2.2    應(yīng)按7.4.1掃查方式進(jìn)行檢驗。

7.4.2.3    反射回波的分析。對波幅超過DAC的反射波(或波幅雖然未超過DAC的反射波，但有一定長度范圍的來自焊接接頭被檢區(qū)域的反射回波)，應(yīng)根據(jù)探頭位置、方向、反射波的位置及焊接接頭的具體情況，參照附錄F，分析判斷其是否為缺陷。判斷為缺陷的部位均應(yīng)在焊接接頭表面做出標(biāo)記。

7.4.3    缺陷
對在焊接接頭檢驗、掃查過程中被標(biāo)記的部位進(jìn)行檢驗并確定其具體位置、最大反射波幅度和指示長度。

7.4.4    評定缺陷
根據(jù)焊接接頭存在缺陷類型、缺陷波幅的大小以及缺陷的指示長度，缺陷評定為允許存在和不允許存在兩類。

7.4.4.1    不允許存在的缺陷：

        a)    性質(zhì)判定為裂紋、坡口未熔合、層間未熔合及密集性缺陷者；

        b)    單個缺陷回波幅度大于或等于DAC＋4dB者；

        c)    單個缺陷回波幅度大于或等于DAC，且指示長度大于5mm者。

7.4.4.2    允許存在的缺陷：
單個缺陷回波幅度小于DAC＋4dB，且指示長度小于或等于5mm者。 

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